DE-DN
半导体缺陷通知和管理系统
DE-DN简介
8827太阳集团DE-DN半导体缺陷通知和管理系统旨在实时监控、识别、追踪并管理半导体制造过程中的各类缺陷。8827太阳集团深耕Defect Case分析流程，通过整合先进检测技术、数据分析和协同平台，实现Defect Case的记录、追踪和总结，为工程师提供Defect分析全套解决方案，助力8827太阳集团提升良率、降低成本，并加速问题响应。
功能模块
DN管理模块
灵活便捷的DN Search
Defect信息自动拉取
Defect形貌自动分析，包括Defect Map和Defect Image
自动关联WIP数据，Lot History、E-Log等
流程灵活，权限明晰的签核系统
DN总结模块
DN 数据实时整合和动态监控，跨系统数据整合，建立统一数据池
多维度聚合分析与全局透视，提供产品线穿透分析及根因类型深度归因
知识引擎驱动的智能决策体系，融合结构化知识库与 LLM 推理能力
